检测项目：‌外观检验‌、‌电性能检验‌ 可靠性检验、功能检验‌、一致性检验失效分析、老化寿命、环境测试、MCU 测试、DSP 测试、存储器测试、数模混合测试等 。

部分参考标准：

JESD22-A108-A

EIAJED- 4701-D101 

MIT-STD-883E Method 1005.8

JESD22-A108-A

EIAJED- 4701-D101

JESD22-A101-D

EIAJED- 4701-D122

JESD22-A110

JESD22-A102

EIAJED- 4701-B123 

MIT-STD-883E Method 1010.7

JESD22-A104-A

EIAJED- 4701-B-131